Viertelwellenplatte

Ein Zoll Viertelwellenplatte @ 780nm AOI 0°

Material: geschmolzenes Siliziumdioxid

Verfahren: Präzisionsoptikfertigung und Dünnschichtabscheidung

Abmessungen: D25.4mm oder 1 Zoll, Dicke 0.3mm

Form: flaches rundes Fenster

Optische Behandlung : AR @ 780nm, Viertelwellenplatte (lambda/4)

Blickwinkel: S&D 40/20

Verwendung: Laser-Forschungsanwendung in der Astronomie